Tržišna prilika

Mikroskopija atomskih sila predstavlja metodu izbora za analizu i karakterizaciju materijala u kemijskoj, prehrambenoj i farmaceutskoj industriji, industriji plastike te poluvodiča. Primjena ove metode uključuje ispitivanje termičkih i mehaničkih svojstava te morfologije i sastava modernih polimernih materijala. Koristi se i u proizvodnji boja i lakova za određivanje topografije i hrapavosti površine premaza. Kvaliteta površine (hrapavost i morfologija) bilo koje legure koja se koristi u stomatologiji također se određuje ovom metodom. Koristi se i u elektronici, kristalografiji te prirodnim i medicinskim znanostima.

Opis usluge

Mikroskop atomskih sila osjeća interakcije atomskih sila na maloj udaljenosti (0.1 do 10 nm) između šiljka senzora mikroskopa i površine uzorka. Senzor se sastoji od poluge sa šiljkom (SiN₃, SiO₂, C-nanotubice) i opruge. Otklon opruge mjeri se optičkom detekcijom (laser i dioda). U kontaktnom režimu mjere se sile 10^-6-10^-10 N, u nekontaktnom režimu mjere se van der Waalsove sile i interakcije. Mogu se mjeriti inter- i intra molekularne sile, sile adhezije, elasticitet uzorka te tvrdoća površine. Korištenjem AFM metode može se dobiti 3D topografska slika površine. Pogodna je za ispitivanje makromolekula, polimera, vezikula, tekućih kristala, koloida, stanica i staničnih organela te abiotskih čestica u prirodnim uvjetima.

AFM metoda pokazuje raznolikost veću od dosada korištenih mikroskopskih metoda. Privlačna je kako za fundamentalna tako i za rutinska ispitivanja materijala, budući da je lokalna, nerazarajuća i primjenljiva kod krajnje različitih uvjeta. Važno je naglasiti da nikakva prethodna priprema uzoraka nije potrebna i moguća su ispitivanja u ambijentalnom ili čak u tekućem okruženju, što je važno za proučavanje bioloških makromolekula.

Ponuda usluge

Tvrtke zainteresirane za usluge analize uzoraka mikroskopijom atomskih sila, te za pripadajuće znanje i iskustvo znanstvenika u obliku stručnog mišljenja, neka se slobodno obrate Institutu Ruđer Bošković.