Prijeđite na glavni sadržaj

Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta. Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su: -Optička rezolucija 1,2 nm -Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka -Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski -Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu -Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku -Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima -Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

Opći podaci o instrumentu

Skraćeni naziv instrumenta
FE SEM
Kategorija
kapitalna (> 132.722,81 EUR / 1.000.000 HRK)
Vrsta instrumenta
elektronski mikroskop
Vrsta analize
površinska analiza
Primjene
vizualizacija
Samostalan/vezan
samostalan
Stanje opreme
potpuno funkcionalan
Discipline
Fizika , Geofizika , Kemija
Godina proizvodnje
2005
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti, obrazovanja i mladih Republike Hrvatske
Vanjski link za kapitalnu opremu

Karakteristike

Model
Jeol, JSM 7000F
Proizvođač
Jeol
Radno i mjerno područje
10-500 000 x
Princip rada i mjerna tehnika
Površina ispitivanog uzorka skenira se s vrlo precizno fokusiranim snopom elektrona. Upadni elektronski snop izbija elektrone iz atoma uzorka (sekundarne elektrone) koji se detektiraju na fotomultiplikacijskom detektoru. Pomoću mikroprocesora ovi signali pretvaraju se u električne signale pri čemu na ekranu nastaje realna trodimezionalna slika površine uzorka. Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)
Detaljne tehničke karakteristike
Radni napon: 500 V - 20 kV Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa Minimalna radna udaljenost: 4 mm Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm;Schottky katoda s emisijom polja elektrona Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV Optička rezolucija 3 nm /5 kV Detektor sekundarnih elektrona (SEI) Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI) Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments
Popratna i dodatna oprema
Uređaj za naparavanje PECS Gatan 682 Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030 Freeze Dryer LL1500 HETO UPS (10 kW) Dizelski agregat (12 kW)
Nabavna cijena
5000000 HRK
Prenosivost
Ne
Rad na daljinu
Ne

Lokacija

Adresa
Bijenička cesta 54
Krilo/Kat/Soba
X/suteren/002A

Ova stranica koristi kolačiće. Neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva. Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

Prilagodi postavke
  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.