Ozračavanje amorfnih oksidnih materijala s brzim teškim ionima
Glavni istraživač
Cilj predloženog projekta je proučavanje učinaka zračenja brzim teškim ionima na amorfne materijale. Utjecaj ove vrste iona često dovodi do oštećenja na nanoskali koje se naziva ionski trag. Na površini materijala, ionski tragovi mogu se promatrati mikroskopijom atomskih sila i raspršenjem rendgenskih zraka pod malim kutem, dok se ispod površine ovi objekti mogu istražiti pomoću transmisijske elektronske mikroskopije. Danas su simulacije molekularne dinamike (MD) moćan računalni alat koji pomaže istraživačima da bolje razumiju procese koji dovode do stvaranja ionskog traga.Predloženi projekt provodit će se i kao eksperimentalno i kao teorijsko istraživanje. Predlažemo provedbu tri eksperimenta i tri teorijske studije (koristeći MC kod Geant4 i MD kod LAMMPS). Od ovih šest tema do kraja projekta planiramo objaviti šest znanstvenih radova. Projekt također ima za cilj izgraditi naše kapacitete za istraživanje. Sredstvima iz ovog projekta nadogradit će se AFM postav koji već intenzivno koristimo, a također planiramo nadograditi HPC klaster koji će omogućiti naše MD simulacije formiranja ionskog traga. Ovo će osigurati ovu teorijsku liniju istraživanja u našem Institutu, koja se ranije provodila kroz vanjske suradnje. Konačno, unutar treće godine predloženog projekta predlažemo i organizaciju vodeće konferencije u ovom području istraživanja, međunarodne konferencije „Swift heavy ions in matter“ u Hrvatskoj.Za postizanje predloženih istraživačkih ciljeva, naš tim iskusnih istraživača s IRB-a bit će dopunjen kolegama iz inozemstva, kao i postdoktorandom kojeg planiramo angažirati na dvije godine. Naknadno se predviđa i zapošljavanje doktoranda.