Sekundarna ionska masena spektrometrija s ionima MeV-skih energija (MeV SIMS) pokazala se izuzetno korisnom za određivanje kemijskog sastava sintetskih organskih pigmenata (SOP-a), boja (engl. dyes) i veziva u modernim slikarskim bojama (engl. paints) i tintama. Kao jedina IBA (engl. Ion Beam Analysis) tehnika kojom je moguće analizirati molekularni sastav organskih materijala, MeV SIMS sve više nalazi svoju primjenu u istraživanjima predmeta kulturne baštine, biologiji/biomedicini i forenzici. Poznato je da prinos sekundarnih molekulskih iona ovisi o vrsti, naboju i energiji primarnog ionskog snopa, odnosno o elektronskoj zaustavnoj moći iona. Međutim, bitan utjecaj ima i kemijsko okruženje analita, odnosno matrični efekti, o kojima se vezano uz MeV SIMS trenutno vrlo malo zna, a posebno u području analize slikarskih materijala. Predloženim istraživanjem došlo bi se do novih spoznaja kako pojedini sustavi pigment-vezivo utječu na prinos sekundarnih molekulskih iona te u kojoj mjeri vrsta i koncentracija matrice utječu na detekciju pojedinih pigmenata u slikarskim bojama.