Uz kvalitetnije snopove lakih jezgri što je važno za eksperimentalnu nuklearnu fiziku, proširivanje spektra mogućnosti Tandem Van de Graaff akceleratora će omogućiti i širu primjenu ionskih snopova u mikroskopskoj karakterizaciji materijala pomoću IBA (ion beam analysis) metoda. Za budućnost je još značajnija mogućnost da se zbog velikog prijenosa energije sa brzih iona na materijal, fokusirani ili pojedinačni brzi ioni koriste kao svojevrstan alat za nanostrukturiranje.

Za razliku od starog prototipnog sputtering ionskog izvora (koji je konstruiran na Institutu), SNICS 40 ionski izvor (proizveden u National Electrostatic Corporation, SAD), daje višestruko jače struje iona. Zbog mogućnosti zamjena katoda bez narušavanja vakuuma, SNICS 40 omogućuje i brzu promjenu vrsta iona koji se ubrzavaju. Ioni koji su posebno pogodni za ubrzavanje u ovom ionskom izvoru sa strujama višim od 1 mikroampera su H, Li, B, C, O, F, Si, P, S, F, Cl, Cu, Br, I, Au, itd. Već su prvi eksperimenti s novim ionskim izvorom pokazali bitna poboljšanja ionske optike kao i proširenje mogućnosti cijelog akceleratorskog sustava, što je posebno značajno za pouzdaniji rad svih korisnika.

Glavninu troškova nabave i montaže ovog značajnog uređaja snosili su IAEA - kroz projekt tehničke suradnje i EU FP6 projekt RBI-AF. Montažu ovog složenog ionskog izvora, te izradu dijela mehaničkih i elektroničkih komponenti, kao i računalno upravljanje SNICS 40 ionskim izvorom napravili su djelatnici Laboratorija za interakcije ionskih snopova Zavoda za eksperimentalnu fiziku. Dijelove ključne za montažu ovog ionskog izvora u akceleratorskom sustavu (fleksibilne vakuumske cijevi, visokonaponski transformatori, nosivi izolatori, podesivi stalci, itd.) izradile su hrvatske tvrtke.