Prijeđite na glavni sadržaj

HRZZ projekt: "Sekvencijalno molekularno i elementno mapiranje korištenjem MeV SIMS-a i drugih IBA tehnika"

HRZZ projekt: "Sekvencijalno molekularno i elementno mapiranje korištenjem MeV SIMS-a i drugih IBA tehnika"
Kategorija
Projekti Hrvatske zaklade za znanost
Iznos financiranja
199.220,00
EUR
Datum početka
16.12.2024.
Datum završetka
15.12.2027.
Status
Aktivan

Glavni istraživač

U ovom projektu cilj je sekvencionalno povezati metode za analizu pomoću ionskih snopiva (IBA metoda) koje služe za određivanje 2D distribucije elemenata kao što su česticama inducirana emisija X-zračenja (PIXE) i Rutherfordovo elastično raspršenje unatrag (RBS), s MeV SIMS-om koji daje informaciju o molekularnom sastavu uzorka s ciljem dobivanja potpune, korelirane informacije o elementnom i molekularnom sastavu. Istraživanja mogućnosti kolreliranog određivanja prostorne molekulske i elementne distribucije u posljednje je vrijeme u fokusu mnogih istraživačkih grupa u svijetu a interes za to postoji u raznim područjima, od biomedicine do forenzike i čuvanja kulturne baštine. Tako u biomedicini, elementni i molekularni markeri igraju važnu ulogu u razumijevanju i praćenju napredovanja bolesti. Kolokacija biomarkera u tkivima može dovesti do boljeg razvoja novih terapija i ljekova. Kombinacija površinske MeV SIMS i dubinske PIXE metode može otkriti redosljed depozicije kemijskih i tonera na dokumentima koji su predmet forenzičkog istraživanja. U forenzici danas za to ne postoje metode koje bi to mogle pouzdano napraviti. Također, karakterizacija i kolokacija organskih i anorganskih komponenti u slikarskim materijalima i slikama može pomoći u određivanju porijekla umjetnina te njihovoj restauraciji. Da bi se moglo mapirati površine uzorka koje nisu kontaminirane raznim onečišćenjima, planira se instalirati ionski izvor za čišćenje i rasprašivanje. Također, izmjerit će se udarni presjeci za oštećenje kako bi se procjenila razina oštećenja uzoraka tijekom mjerenja. Također, za razne vrste organiskh uzoraka, odredit će se optimalan ionski snop za sekvencionalna MeV SIMS-PIXE mjerenja.

Ova stranica koristi kolačiće. Neki od tih kolačića nužni su za ispravno funkcioniranje stranice, dok se drugi koriste za praćenje korištenja stranice radi poboljšanja korisničkog iskustva. Za više informacija pogledajte naše uvjete korištenja.

Prilagodi postavke
  • Kolačići koji su nužni za ispravno funkcioniranje stranice. Moguće ih je onemogućiti u postavkama preglednika.