U ovom projektu cilj je sekvencionalno povezati metode za analizu pomoću ionskih snopiva (IBA metoda) koje služe za određivanje 2D distribucije elemenata kao što su česticama inducirana emisija X-zračenja (PIXE) i Rutherfordovo elastično raspršenje unatrag (RBS), s MeV SIMS-om koji daje informaciju o molekularnom sastavu uzorka s ciljem dobivanja potpune, korelirane informacije o elementnom i molekularnom sastavu. Istraživanja mogućnosti kolreliranog određivanja prostorne molekulske i elementne distribucije u posljednje je vrijeme u fokusu mnogih istraživačkih grupa u svijetu a interes za to postoji u raznim područjima, od biomedicine do forenzike i čuvanja kulturne baštine. Tako u biomedicini, elementni i molekularni markeri igraju važnu ulogu u razumijevanju i praćenju napredovanja bolesti. Kolokacija biomarkera u tkivima može dovesti do boljeg razvoja novih terapija i ljekova. Kombinacija površinske MeV SIMS i dubinske PIXE metode može otkriti redosljed depozicije kemijskih i tonera na dokumentima koji su predmet forenzičkog istraživanja. U forenzici danas za to ne postoje metode koje bi to mogle pouzdano napraviti. Također, karakterizacija i kolokacija organskih i anorganskih komponenti u slikarskim materijalima i slikama može pomoći u određivanju porijekla umjetnina te njihovoj restauraciji. Da bi se moglo mapirati površine uzorka koje nisu kontaminirane raznim onečišćenjima, planira se instalirati ionski izvor za čišćenje i rasprašivanje. Također, izmjerit će se udarni presjeci za oštećenje kako bi se procjenila razina oštećenja uzoraka tijekom mjerenja. Također, za razne vrste organiskh uzoraka, odredit će se optimalan ionski snop za sekvencionalna MeV SIMS-PIXE mjerenja.