Veliki dio opreme povezane s eksperimentalnim linijama instalirane u akceleratorskom centru IRB-a dizajniralo je osoblje laboratorija, a mnoge komponente su konstruirane u lokalnoj radionici laboratorija. U suradnji s nizom stranih istraživačkih grupa koje dijele potrebu za sofisticiranim instrumentacijom povezanom s tehnikama analize ionskim snopovima, razvili smo mnoge jedinstvene dijelove instrumentacije. Na primjer, dizajnirali smo i konstruirali komoru za raspršivanje s mikroprobom za NCSR Demokritos u Ateni, komoru za testiranje detektora za MedAustron u Wiener Neustadtu, sklop s objektnim pukotinama za CMAM u Madridu i cijelu PIXE/RBS krajnju postaju za akcelerator BAEC u Dhaki.
Naši istraživači i tehnički suradnici imaju posebno jako iskustvo u razvoju sistema za TOF (Time-of-Flight) spektrometre za ERDA (ref. 1-3), dizajniranju komponenata za ionski mikroprobni sustav (ref. 4), razvoju umanjenih PIXE spektrometara visoke rezolucije (ref. 5, 6), itd.

Štoviše, zbog dugogodišnjeg iskustva u razvoju i nadogradnji multiparametarskih sustava za prikupljanje podataka temeljenih na SPECTOR softveru, laboratorij je razvio niz sustava uključujući one zasnovane na digitalnoj obradi impulsa (ref. 7, 8).
Za sve dodatne informacije obratite se sljedećim osobama: Milko Jakšić (jaksic@irb.hr), Zdravko Siketić (zsiketic@irb.hr), ili za pitanja vezana za akvizicijske sustave Donny Domagoj Cosic (dcosic@irb.hr).

REFERENCE:

1. Z. Siketić, I. Bogdanović Radović, I. Sudić, M. Jakšić, Surface analysis and depth profiling using time-of-flight elastic recoil detection analysis with argon sputtering, Scientific Reports 8 (2018) 10392
2. Z. Siketić, I. Bogdanović Radović, M. Jakšić, Quantitative analysis of  hydrogen in thin films using Time-of-Flight Elastic Recoil Detection  Analysis, Thin Solid Films,  518 (2010) 2617-2622
3. Z. Siketić, I. Bogdanović Radović, M. Jakšić, N. Skukan, Time of flight elastic recoil detection analysis with a position sensitive detector, Rev. Sci. Instr., 81 (2010) 033305-1
4. M. Jakšić, I. Bogdanović Radović, M. Bogovac, V. Desnica, S. Fazinić, M. Karlušić, Z. Medunić, H. Muto, Ž. Pastuović, Z. Siketić, N. Skukan, T. Tadić, New capabilities of the Zagreb ion microbeam system., Nucl. Instr. and Meth. B260 (2007) 114-118
5. I. Božičević Mihalić, S. Fazinić, T. Tadić, D. Cosic and M. Jakšić, Study of ion beam induced chemical effects in silicon with a downsized high-resolution X-ray spectrometer for use with focused ion beams, J. Anal. At. Spectrom. 31 (2016) 2293
6. S. Fazinić, I. Božičević Mihalić, T. Tadić, D. Cosic, M. Jakšić, D. Mudronja, Wavelength dispersive μPIXE setup for the ion microprobe, Nucl. Instr. and Meth., B363 (2015) 61-65
7. M. Bogovac, M. Jakšić, D. Wegrzynek, A. Markowicz, Digital pulse processor for ion beam microprobe  imaging, Nucl. Instr. and Meth. B 267 (2009) 2073
8. D.Cosic, M.Bogovac, M.Jakšić, Data acquisition ind. control system for an evolving nuclear microprobe, Nucl. Instr. Meth. B451 (2019) 122-126