Pretražni elektronski mikroskop
20.10.2016.
- Analiza veličine i distribucije veličina čestica, poroznost čestica, homogenost materijala, mehanička oštećenja i strukturni defekti,određivanje debljine i homogenosti filmova
- Optička rezolucija 1,2 nm
- Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
- Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
- Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
- Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
- Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
- Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 stupnjeva
Upute za korisnike
Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslati e-mail
Cjenik korištenja
Cijena je izražena po satu rada mikroskopa.
SEM usluga |
SEM + EDS (elementna analiza) |
|
ZA IRB korisnike: |
130 Kn |
177,73 Kn |
Za korisnike iz sustava znanosti RH izvan IRB-a: |
382,01 kn + PDV |
439,61 + PDV |
Za korisnike iz IRB-a koji imaju naručitelja |
852,40 kn |
1.027,73 kn |
Za korisnike koji nisu u sustavu znanosti: |
1.217,72 kn + PDV |
1.468,18 kn + PDV |
ZAHTJEV ZA KORIŠTENJE USLUGE
Ovlašteni korisnici
Dr. Marijan Gotić (gotic@irb.hr)
Dr. Goran Štefanić (stefanic@irb.hr)